CEM3000系列自動(dòng)化顆粒度統(tǒng)計(jì)掃描電鏡具有高度的靈活性和豐富的功能，包括多種檢測(cè)器、附件，可以滿足廣泛的研究和工業(yè)需求，包括半導(dǎo)體芯片失效分析。無(wú)論樣品尺寸、重量、導(dǎo)電性如何，掃描電鏡都可以讓您輕松應(yīng)對(duì)挑戰(zhàn)，獲得出色的SEM圖像和SEM分析結(jié)果。

SuperViewW工業(yè)表面3D白光干涉檢測(cè)儀可測(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

傳統(tǒng)的落地式SEM掃描電鏡儀器可能需要一個(gè)專門的房間或設(shè)施，而CEM3000中圖儀器臺(tái)式電鏡掃描儀器的框架尺寸還有所縮小，具有更高的易用性，要堅(jiān)固耐用得多。

NS系列國(guó)產(chǎn)探針式臺(tái)階儀應(yīng)用場(chǎng)景適應(yīng)性強(qiáng)，其對(duì)被測(cè)樣品的反射率特性、材料種類及硬度等均無(wú)特殊要求，可測(cè)量沉積薄膜的臺(tái)階高度、抗蝕劑（軟膜材料）的臺(tái)階高度等。

VT6000白光共焦顯微鏡用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行微納米級(jí)測(cè)量。可測(cè)各類包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

掃描電鏡SEM中圖儀器具有高度的靈活性和豐富的功能，包括多種檢測(cè)器、附件，可以滿足廣泛的研究和工業(yè)需求，包括半導(dǎo)體芯片失效分析。無(wú)論樣品尺寸、重量、導(dǎo)電性如何，掃描電鏡都可以讓您輕松應(yīng)對(duì)挑戰(zhàn)，獲得出色的SEM圖像和SEM分析結(jié)果。