SuperViewW工業(yè)表面3D檢測(cè)白光干涉儀可測(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

中圖儀器國產(chǎn)電鏡標(biāo)配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng)，能滿足用戶對(duì)多類型樣品的觀測(cè)需求，實(shí)現(xiàn)微觀的形貌和元素分析等。

中圖儀器高分辨率sem掃描電鏡品牌具有空間自由+高效精準(zhǔn)+定制適配+可靠保障的特點(diǎn)，能夠解決檢測(cè)場(chǎng)地受限、操作復(fù)雜拖慢進(jìn)度、振動(dòng)環(huán)境下數(shù)據(jù)不準(zhǔn)測(cè)量痛點(diǎn)。標(biāo)配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng)，能滿足用戶對(duì)多類型樣品的觀測(cè)需求，實(shí)現(xiàn)微觀的形貌和元素分析等。

SuperView W1系列納米級(jí)白光干涉三維形貌儀以0.1nm級(jí)分辨率、8μm/s掃描速度、300+種標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)，一站式解決超精密測(cè)量精度不足、多材質(zhì)適配難、批量檢測(cè)效率低等測(cè)量難題。應(yīng)用覆蓋半導(dǎo)體、3C電子等多行業(yè)場(chǎng)景，數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)檢測(cè)，賦能精密制造升級(jí)。

中圖儀器CEM3000系列材料觀察分析一體化掃描電鏡4nm高清+40秒快檢！以“空間自由+高效精準(zhǔn)+定制適配+可靠保障”四大核心優(yōu)勢(shì)，直擊B端檢測(cè)核心需求，讓微觀觀測(cè)更靈活、更高效、更可靠！

中圖儀器SuperView W系列0.1nm形貌重復(fù)性白光干涉儀一鍵完成單/多區(qū)域自動(dòng)測(cè)量、批量分析，編程測(cè)量功能可預(yù)設(shè)流程實(shí)現(xiàn)一鍵操作，單個(gè)精細(xì)器件測(cè)量用時(shí)短，大幅提升檢測(cè) throughput。