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    當前位置:首頁產(chǎn)品中心半導體專業(yè)檢測設備晶圓形貌測量系統(tǒng)WD4000無圖晶圓粗糙度測量系統(tǒng)
    無圖晶圓粗糙度測量系統(tǒng)

    產(chǎn)品簡介

    WD4000無圖晶圓粗糙度測量系統(tǒng)提供幾何輪廓分析、粗糙度分析、結構分析、頻率分析、功能分析等五大分析功能。其中粗糙度分析包括國際標準ISO4287 的線粗糙度、ISO25178 面粗糙度、ISO12781 平整度等全參數(shù)。

    產(chǎn)品型號:WD4000
    更新時間:2025-04-08
    廠商性質:生產(chǎn)廠家
    訪問量:1124
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    中圖儀器WD4000無圖晶圓粗糙度測量系統(tǒng)提供幾何輪廓分析、粗糙度分析、結構分析、頻率分析、功能分析等五大分析功能。其中粗糙度分析包括國際標準ISO4287 的線粗糙度、ISO25178 面粗糙度、ISO12781 平整度等全參數(shù)。


    無圖晶圓粗糙度測量系統(tǒng)

    厚度測量模塊:厚度、TTV(總體厚度變化) 、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI、平面度、等;

    顯微形貌測量模塊:粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、面積、體積等。


    產(chǎn)品優(yōu)勢

    1、非接觸厚度、三維維納形貌一體測量

    集成厚度測量模組和三維形貌、粗糙度測量模組,使用一臺機器便可完成厚度、TTV、LTV、BOW、WARP、粗糙度、及三維形貌的測量。

    2、高精度厚度測量技術

    (1)采用高分辨率光譜共焦對射技術對Wafer進行高效掃描。

    (2)搭配多自由度的靜電放電涂層真空吸盤,晶圓規(guī)格可支持至12寸。

    (3)采用Mapping跟隨技術,可編程包含多點、線、面的自動測量。

    3、高精度三維形貌測量技術

    (1)采用光學白光干涉技術、精密Z向掃描模塊和高精度3D重建算法,Z向分辨率高可到0.1nm;

    (2)隔振設計降低地面振動和空氣聲波振動噪聲,獲得高測量重復性。

    (3)機器視覺技術檢測圖像Mark點,虛擬夾具擺正樣品,可對多點形貌進行自動化連續(xù)測量。

    4、大行程高速龍門結構平臺

    (1)大行程龍門結構(400x400x75mm),移動速度500mm/s。

    (2)高精度花崗巖基座和橫梁,整體結構穩(wěn)定、可靠。

    (3)關鍵運動機構采用高精度直線導軌導引、AC伺服直驅電機驅動,搭配分辨率0.1μm的光柵系統(tǒng),保證設備的高精度、高效率。

    5、操作簡單、輕松無憂

    (1)集成XYZ三個方向位移調(diào)整功能的操縱手柄,可快速完成載物臺平移、Z向聚焦等測量前準工作。

    (2)具備雙重防撞設計,避免誤操作導致的物鏡與待測物因碰撞而發(fā)生的損壞情況。

    (3)具備電動物鏡切換功能,讓觀察變得快速和簡單。

    無圖晶圓粗糙度測量系統(tǒng)


    WD4000無圖晶圓粗糙度測量系統(tǒng)通過非接觸測量,將晶圓的三維形貌進行重建,強大的測量分析軟件穩(wěn)定計算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測量測同時有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷。可實現(xiàn)砷化鎵、氮化鎵、磷化鎵、鍺、磷化銦、鈮酸鋰、藍寶石、硅、碳化硅、玻璃不同材質晶圓的量測。


    應用領域

    可廣泛應用于襯底制造、晶圓制造、及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、顯示面板、MEMS器件等超精密加工行業(yè)。可測各類包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的厚度、粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等,


    應用案例

    無圖晶圓粗糙度測量系統(tǒng)


    部分技術規(guī)格

    品牌CHOTEST中圖儀器
    型號WD4000系列
    測量參數(shù)厚度、TTV(總體厚度變化)、BOW、WARP、LTV、粗糙度等
    可測材料砷化鎵、氮化鎵、磷化鎵、鍺、磷化銦、 鈮酸鋰、藍寶石、硅、碳化硅、氮化鎵、玻璃、外延材料等
    厚度和翹曲度測量系統(tǒng)
    可測材料砷化鎵 ;氮化鎵 ;磷化 鎵;鍺;磷化銦;鈮酸鋰;藍寶石;硅 ;碳化硅 ;玻璃等
    測量范圍150μm~2000μm
    掃描方式Fullmap面掃、米字、自由多點
    測量參數(shù)厚度、TTV(總體厚度變 化)、LTV、BOW、WARP、平面度、線粗糙度
    三維顯微形貌測量系統(tǒng)
    測量原理白光干涉
    干涉物鏡10X(2.5X、5X、20X、50X,可選多個)
    可測樣品反射率0.05%~100
    粗糙度RMS重復性0.005nm
    測量參數(shù)顯微形貌 、線/面粗糙度、空間頻率等三大類300余種參數(shù)
    膜厚測量系統(tǒng)
    測量范圍90um(n= 1.5)
    景深1200um
    最小可測厚度0.4um
    紅外干涉測量系統(tǒng)
    光源SLED
    測量范圍37-1850um
    晶圓尺寸4"、6"、8"、12"
    晶圓載臺防靜電鏤空真空吸盤載臺
    X/Y/Z工作臺行程400mm/400mm/75mm

    請注意:因市場發(fā)展和產(chǎn)品開發(fā)的需要,本產(chǎn)品資料中有關內(nèi)容可能會根據(jù)實際情況隨時更新或修改,恕不另行通知,不便之處敬請諒解。

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