產品簡介

SJ5100系列國產光柵測長儀是一種高精度的測量設備，常用于工業生產中對物體長度、角度和位置等參數的精確測量。該產品具有精度高、操作便攜、穩定性強、功能齊全實用等優點，能夠測量及檢定精密量具、精密量規，如塊規、環塞規、卡規、螺紋規、花鍵規、表類、尺類。還可以檢測各種精密工件內外尺寸，如齒輪、花鍵、校對棒、非標量規等，具有通用性強的特點。

光柵測長機是一種高精度的測量設備，常用于工業生產中對物體長度、角度和位置等參數的精確測量。其原理是利用光柵的干涉作用，通過光電檢測器將光信號轉化為電信號，并經過計算得出被測物體的尺寸。具有高精度、高速度、非接觸式測量等優點，廣泛應用于機械加工、電子制造、半導體生產等領域。其測量精度通?？蛇_到亞微米級別，可以滿足大多數工業生產對尺寸精度的要求。

中圖儀器SJ5100系列國產光柵測長儀采用的高精度光柵式大量程接觸式測量是一種很好的長度測量方式。該產品具有精度高、操作便攜、穩定性強、功能齊全實用等優點，能夠測量及檢定精密量具、精密量規，如塊規、環塞規、卡規、螺紋規、花鍵規、表類、尺類。還可以檢測各種精密工件內外尺寸，如齒輪、花鍵、校對棒、非標量規等，具有通用性強的特點。

產品描述

SJ5100系列高精度光柵測長機采用進口高精度光柵測量系統、高精密研磨直線導軌、高精度溫度補償系統、雙向恒測力系統、高性能計算機控制系統技術，實現各種長度參數的高精度測量。通過高精密研磨導軌保證測量頭座移動的高穩定性及超高直線度，采用進口高精度光柵測量系統記錄長度方向坐標，由計算機將光柵數據與測力裝置、溫度傳感器的反饋數據及阿貝誤差數據修正后進行數據合成（由于導軌較高的直線度，因此阿貝修正造成的儀器誤差小）。按被測件參數的相關定義及公式進行分析，計算獲得相關長度參數。

操作者裝好被測件，在檢測軟件上選擇被測件的標準和輸入被測件的規格參數后，移動頭座接觸被測件，調整五軸工作臺找到拐點，采樣完成得到測量數據，系統可實時顯示測量結果，自動計算被測件各項參數（如檢測螺紋規，則可自動計算螺紋中徑），并根據系統內置的標準數據庫對被測件的各項參數進行合格判定，整個測量過程不超過3分鐘，結束后自動生成結果及記錄報表。

儀器參考JJF1189-2008測長儀校準規范制造，儀器測量原理符合JJG 343-2012 光滑極規檢定規程、JJG 146-2011 量塊檢定規程、JJG 21-2008千分尺檢定規程、JJG 22-2014內徑千分尺檢定規程、JJG 62-2017塞尺檢定規程、JJF 1207-2008三針/針規檢定規范、JJF 1345-2012圓柱螺紋量規校準規范等長度檢定規程規范。

SJ5100系列國產光柵測長儀標準系統軟件為簡體中文操作系統（可選擇切換英語、俄語等多種語言），操作方便簡潔。

量塊校準

兩點內徑千分尺校準

技術規格

儀器主要功能

1).標配功能：

檢測量塊&塊規：（0.1~300mm）；

光滑環規：φ5~φ200mm（壁厚≤50 mm，高度≤50mm）、光滑塞規：φ1~φ220mm；

螺紋環規：M5~M200（螺距0.8~4mm）

螺紋塞規：M1~M220（螺距0.25~5.5mm）；

光滑卡規：內卡5~200mm，外卡1~300mm

千分尺校對桿：25~300mm；

塞尺：0.02~1mm

針規：φ0.1~φ10mm

三針：0.118~6.585mm；

兩點內徑千分尺：25~300mm；

2).可選配功能：

小型光滑環規：φ0.8~φ5mm；

螺紋環規：規格M3~M4（螺距0.5~0.7mm）；

光滑錐度環規：φ5~φ200mm（厚度≤50mm）；

光滑錐度塞規：φ5~φ60mm（長度10~100mm）；φ60~φ200mm（長度≤50mm）；

螺紋錐度環規：M5~M200mm（厚度≤50mm）；

螺紋錐度塞規：M5~M60mm（長度10~100mm）；M60~M200mm（長度≤50mm）；

鋸齒螺紋、梯形螺紋：M3~M400（螺距0.5~6mm）；

花鍵環塞規/花鍵及標準齒輪（跨棒距測量）：內φ10~φ200mm，外φ5~φ200mm，模數0.8~6mm；

外徑千分尺示值誤差手動校準：25~300mm；

數顯及游標卡尺示值誤差手動校準：75~300mm；

深度千分尺示值誤差手動校準：0~25、25~50、50~75mm；

三爪內徑千分尺手動校準：φ6~φ200mm；

表類（百分表、千分表、杠桿表手動校準）；

數顯半徑規手動校準：R5~R700mm；

軸承內外圈錐度、溝槽底徑內外徑及溝槽寬度、精密零部件的長度尺寸，內外徑尺寸測量；